Röntgenblick für weniger Ausschuss
Wie sich in Halbleiterkristallen von kleinsten Schäden weitläufige Defekte ausbreiten
23.11.2017 -
Mit zerstörungsfreien bildgebenden Verfahren gelingt es einem Team am KIT, dreidimensionale Einblicke in das Innere von Kristallen zu werfen. Sie erhalten wichtige Daten über linienartige Defekte, die maßgeblich das Verformungsverhalten von Kristallen beeinflussen. Diese sogenannten Versetzungen ...
CDIC-Mikroskopie
DIC-Mikroskopie
Differentialinterferenzkontrastmikroskopie
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