Neues Charakterisierungssystem vereinfacht Dünnfilm-Tests mit automatisierter Software
Fraunhofer IPMS entwickelt mit 2 Start-ups Proben-Carrier für organische Elektronik und Gas-Sensorik
Das Fraunhofer Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS hat das öffentlich geförderte Projekt »SMut« gestartet, um gemeinsam mit den Start-ups Credoxys und SweepMe! ein innovatives Messsystem zur präzisen Dünnfilmcharakterisierung zu entwickeln. Dieses System ermöglicht Experimente unter variablen Bedingungen und setzt neue Maßstäbe in der Charakterisierung organischer Materialien.
Das Fraunhofer IPMS hat kürzlich neue Chips und Messadapter zur Dünnfilmcharakterisierung für Materialien aus der organischen Elektronik sowie der dünnfilmbasierten Gas-Sensorik vorgestellt. Auf dieser Basis wurde das öffentlich geförderte Projekt »SMut« ins Leben gerufen, in dem das Fraunhofer IPMS und die Partner Credoxys und SweepMe! ihre Expertise bündeln, um ein neuartiges Messsystem zu entwickeln.
Das innovative System wird aus einer Basisstation und mehreren Proben-Carriern bestehen, die bereits in einer Glovebox mit Forschungsproben bestückt werden können. Damit wird es möglich sein, verschiedene elektrische und photoelektrische Experimente unter unterschiedlichen Gasen, Drücken und Temperaturen durchzuführen. »Der Probencarrier soll in einer Glovebox handhabbar und unter Schutzgas entnehmbar sein sowie Langzeitmessungen über mehrere Wochen erlauben«, erläutert Dr. Alexander Graf, Projektleiter am Fraunhofer IPMS.
Dank der Softwareentwicklung von SweepMe! kann nahezu jedes Messgerät und jede Messroutine intuitiv konfiguriert werden. »Die von uns im Projekt zu entwickelnde Softwarelösung ermöglicht erstmals eine intuitive und out-of-the-box nutzbare Charakterisierungsplattform«, fasst Dr. Axel Fischer, Geschäftsführer der SweepMe! GmbH, die Projektziele zusammen.
Dr. Jörn Vahland, Materialentwickler der Credoxys GmbH, zeigt sich begeistert von den neuen Möglichkeiten, die das Messsystem bieten wird: »Der Aufwand, den wir derzeit in die Charakterisierung unserer OLED-Materialien stecken, ist enorm. Vor allem Langzeitmessungen unter kontrollierter Atmosphäre und Temperatur sind aktuell besonders herausfordernd. Mit diesem System wird ein neues Level der Dünnschichtcharakterisierung erreicht. Die Reproduzierbarkeit und die Messmöglichkeiten sind sensationell.«
Das Grundkonzept und der prinzipielle Systemaufbau werden auf der analytica am Messstand des Fraunhofer IPMS in Halle A3 - #312, interessierten Besuchern vorgestellt.
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