Warum immer mehr ICP-OES-Anwender auf die neueste Technologie umsteigen
Einige typische Eigenschaften herkömmlicher ICP-OES-Spektrometer führen regelmäßig zu beträchtlichen Problemen und Kosten. Diese Probleme sind häufig mehr
Welche Spektrometer-Optiktechnologie bietet die bessere Leistung – Echelle oder ORCA?
Schematische Darstellung eines typischen Echelle-Systems
ORCA-basierte Systeme weisen eine konstante Auflösung über einen weiten Wellenlängenbereich auf
Plasma bei radialer Betrachtung
ORCA erfasst das gesamte relevante Spektrum
Das Herz eines ICP-OES (optischer Emissionsspektrometer mit induktiv
gekoppelter Plasmaanregung) ist das optische System. Daher sollte jeder
Labormanager wesentliche Fakten dieser Systeme kennen. Die Herausforderung
besteht darin, das geeignete Analysegerät für eine Vielzahl an Anwendungen aus
Forschung und Industrie auszuwählen. Höchste Präzision und/oder maximale
Messempfindlichkeit sind dabei oft entscheidende Leistungsparameter.
Heutzutage gibt es bei modernen ICP-OES-Geräten zwei generell unterschiedliche
Optikdesigns – „Echelle“ oder „Paschen-Runge mit Rowland-Kreis
Aufstellung“ (auch „Optimized Rowland Circle Alignment“ – oder kurz
„ORCA“ genannt).
Dieses Dokument geht auf die wesentlichen Vor- und Nachteile beider Ansätze
ein. Es legt außerdem dar, warum die ORCA Technik– obwohl scheinbar weniger
weit verbreitet im Vergleich zur Echelle-Technologie – in vielen
Anwendungsbereichen die bessere Leistung erbringt.
Fakten, Hintergründe, Dossiers
- Spektrometer
- Spektroskopie
- ICP-OES
- ICP-OES-Spektrometer
- Echelle-Technologie
- Beugungsgitter
- Halbleiterdetektoren
- ORCA-Systeme
- Optimized Rowland C…
Mehr über SPECTRO Analytical Instruments
-
White Paper
Fortschrittliche Elementanalyse von Böden
Dieser Bericht beschreibt die grundlegende Methodik für die Analyse von Böden mittels der Dual Side-On Interface (DSOI) Technologie mehr
Metalle und Spurenelemente in wässrigen Lösungen
Dieser Bericht beschreibt die Analyse von Metallen und Spuren in wässrigen Lösungen mittels der Dual Side-On Interface (DSOI) Technologie mehr
-
News
Dr. Christoph Mätzig neuer Geschäftsführer von SPECTRO
Die SPECTRO Analytical Instruments GmbH hat mit Dr. Christoph Mätzig den Nachfolger für den am 1. Juli 2016 in den Ruhestand getretenen Manfred Bergsch bekanntgegeben. In Schleswig-Holstein aufgewachsen, promovierte Dr. Mätzig im Jahr 1997 an der Universität Hannover am Institut für Mikrote ... mehr
40.000stes SPECTRO-Gerät ausgeliefert
SPECTRO Analytical Instruments hat im August 2015 das 40.000ste Spektrometer seiner Unternehmensgeschichte ausgeliefert. Hierbei handelt es sich um ein SPECTRO ARCOS – ein hochmodernes Optisches Emissions-Spektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES). Empfänger des Jubiläumsgeräts ... mehr
SPECTRO erhält R&D 100 Award des R&D Magazins
SPECTRO Analytical Instruments ist einer der Gewinner des 49sten R&D 100 Awards, einer Auszeichnung, welche jährlich von den Herausgebern des R&D Magazins vergeben wird. Das Unternehmen wurde gemeinsam mit dem Pacific Northwest National Laboratory, der University of Arizona, der Indiana Uni ... mehr
Meistgelesene White Paper
- 1Mikrowellen Gefriertrocknung von Gemüse und Früchten
- 2Mit Volldampf voraus
- 3Ein Leitfaden: Warum die Kenntnis der Partikelgröße so wichtig ist
- 4Schnelle und präzise Feuchte/Feststoff-Bestimmung in der schnellsten Trockenwaage der Welt
- 5Warum immer mehr Flammen-AAS-Nutzer zur ICP-OES wechseln
- 6Gefährdung durch ELEKTROSTATIK IM LABOR?!
- 7Verbesserte automatische Wasserdampfdestillation zur Alkoholbestimmung von Spirituosen und Likören
- 8ICP-OES-Plasmabetrachtungs-Techniken im Vergleich: Axial, Radial, Dual, MultiView und das neue Dual Side-On
- 9Partikel und Porosität unter die Lupe nehmen
- 10Asymmetrische Fluss-Feldfluss-Fraktionierung - eine leistungsfähige Methode zur Polymercharakterisierung
