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Rasterelektronenmikroskope:

JEOL SEM-Series: JSM-IT210 - JSM-IT710 - JSM-IT810

Schnelle Ergebnisse. Maximale Automation. Minimaler Schulungsaufwand. JEOL Rasterelektronenmikroskope

JEOL (Germany) GmbH

Auflösung bis 0,5 nm bei 150 kV (JSM-IT-810) für hochdetaillierte Strukturanalyse

Probenstrom ≥ 500 nA (JSM-IT810 SHL) für extrem schnelle Analytik

Vollautomatische Bilderfassung und Partikelanalyse spart bis zu 80% Arbeitszeit

Höchster Automatisierungsgrad: Automatische Erkennungs-, ...
Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum ...
Ein Rasterelektronenmikroskop von JEOL für jede Anwendun ...
Höchster Automatisierungsgrad: Automatische Erkennungs-, ...
Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum ...
Ein Rasterelektronenmikroskop von JEOL für jede Anwendun ...

Optimierte Workflows, integrierte EDS-Analyse und 3D-Rekonstruktion für Einsteiger bis Profis

Mehr sehen. Mehr erreichen. Ganz einfach.

Ob Untersuchung neuer Mikrochips, Aufdecken komplizierter biologischer Strukturen, Polymerforschung, Asbest-, Schmauchspur- oder Schadensanalyse – mit der Entscheidung für ein modernes Rasterelektronenmikroskop von JEOL liegen Sie immer richtig!

Die von JEOL entwickelten REMs decken R&D-Anforderungen von nm- bis sub-nm-Bereich ideal ab. Mit Flexibilität und Optionsvielfalt und einer außergewöhnlich langen Lebensdauer eignen sich JEOL-Geräte perfekt in Qualitätssicherung und Produktentwicklung – in Industrie, Forschung und Lehre. Von unserem leistungsstärksten Flaggschiff-Feldemissions-REM mit ultimativer Auflösung, Vergrößerung und analytischer Flexibilität bis hin zum benutzerfreundlichen Tisch-REM der Einstiegsklasse bietet JEOL auch für Ihre Fragestellung das passende Messgerät.

Vom intuitiven Einsteiger-REM bis zum High-End FEG-REM – eine Familie für alle Anwendungen.

Ob Routine-Qualitätskontrolle, Materialforschung, Life Sciences oder Nanotechnologie: Die REM-Serie von JEOL bietet leistungsstarke Bildgebung, intelligente Automatisierung und einfache Bedienung auf jedem Niveau.

Eine Plattform. Jede Leistungsstufe.

Vom kompakten NeoScope über das vielseitige JSM-IT210 InTouchScope bis hin zum Flaggschiff JSM-IT810 FE-SEM — steigern Sie Ihre Performance, ohne die Bedienung zu verkomplizieren.

Schnelle Ergebnisse, minimaler Schulungsaufwand

Automatische Justage, intelligente Navigation und workflow-orientierte Software reduzieren Rüstzeiten und erleichtern die Bedienung — ideal für Multi-User-Labore.

Integrierte Analytik

Hochauflösende Bildgebung kombiniert mit EDS und erweiterten Detektorsystemen liefert strukturelle und elementare Informationen in einem durchgängigen Workflow.

Für Einsteiger gemacht. Für Experten entwickelt.

Einfach genug für Erstanwender.

Leistungsstark genug für Spitzenforschung.

Ihre Anwendung. Ihr Anspruch. Eine JEOL SEM-Familie.

Erleben Sie das JSM-IT210 InTouchScope live auf der analytica und entdecken Sie, wie intuitive Bedienung auf leistungsstarke Bildgebung und integrierte EDS-Analyse trifft.Bringen Sie Ihre eigene Probe mit und testen Sie das System direkt vor Ort. Unsere Applikationsspezialisten begleiten Sie vom Probeneinlegen bis zum fertigen Ergebnis.

Besuchen Sie uns auf der analytica 2026 in Halle A2, Stand 210 — und machen Sie aus Ihrer Probe echte Erkenntnisse.

Haben Sie Fragen zu diesem Produkt oder seinen Anwendungen?
Kontaktieren Sie uns, wir helfen Ihnen gerne.

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Höchster Automatisierungsgrad: Automatische Erkennungs-, ...

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Höchster Automatisierungsgrad: Automatische Erkennungs-, Kalibrierungs- und Analysefunktion + Live-3D-Funktion + EDS-Integration (JSM-IT810)

Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum ...

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Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter

Ein Rasterelektronenmikroskop von JEOL für jede Anwendun ...

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Ein Rasterelektronenmikroskop von JEOL für jede Anwendung und Anspruch.

Erleben Sie dieses Produkt live auf der Messe

analytica
24.03.2026 - 27.03.2026 München | Halle , Stand

Jetzt Informationen zu JEOL SEM-Series: JSM-IT210 - JSM-IT710 - JSM-IT810 anfordern

Höchster Automatisierungsgrad: Automatische Erkennungs-, Kalibrierungs- und Analysefunktion + Live-3D-Funktion + EDS-Integration (JSM-IT810)

Rasterelektronenmikroskope: JEOL SEM-Series: JSM-IT210 - JSM-IT710 - JSM-IT810

Schnelle Ergebnisse. Maximale Automation. Minimaler Schulungsaufwand. JEOL Rasterelektronenmikroskope

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JEOL SEM-Series: JSM-IT210 - JSM-IT710 - JSM-IT810 und verwandte Inhalte finden Sie in den Themenwelten

Themenwelt Partikelanalyse

Die Methoden der Partikelanalyse erlaubt es uns, winzige Partikel in verschiedenen Materialien zu untersuchen und ihre Eigenschaften zu enthüllen. Ob in der Umweltüberwachung, der Nanotechnologie oder der pharmazeutischen Industrie – die Partikelanalyse eröffnet uns einen Blick in eine verborgene Welt, in der wir die Zusammensetzung, Größe und Form von Partikeln entschlüsseln können. Erleben Sie die faszinierende Welt der Partikelanalyse!

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Themenwelt Partikelanalyse

Die Methoden der Partikelanalyse erlaubt es uns, winzige Partikel in verschiedenen Materialien zu untersuchen und ihre Eigenschaften zu enthüllen. Ob in der Umweltüberwachung, der Nanotechnologie oder der pharmazeutischen Industrie – die Partikelanalyse eröffnet uns einen Blick in eine verborgene Welt, in der wir die Zusammensetzung, Größe und Form von Partikeln entschlüsseln können. Erleben Sie die faszinierende Welt der Partikelanalyse!

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