Partikelcharakterisierung

Produkte Partikelcharakterisierung

Partikelprozesse: Verständnis und Optimierung

Informationen direkt aus Prozessen mit Partikelbeteiligung liefern Wissenschaftlern und Ingenieuren wertvolle Daten zur schnellen Optimierung oder auch zur Prozessverfolgung mehr

Partikelanalyse auf Knopfdruck

Partikelanalyse auf Knopfdruck mit dem Litesizer 500: Schnelle und intuitive Messungen dank genialer Software mehr

Separations- und Sedimentanalyse – alle Dispergiermedien sind möglich

Ermöglicht den Einsatz von Röntgenstrahlung für die patentierte STEP-Technologie mehr

News Partikelcharakterisierung

  • LUM GmbH eröffnet eigenes Applikationslabor in Paris

    Am 1. Oktober 2014 wurde das neue Applikationslabor der LUM GmbH in Plaisir, einem westlichen Vorort von Paris, eröffnet. „Zur Weiterentwicklung des französischen Marktes für die LUM Produkte und zur optimalen Betreuung der LUM-Kunden in Frankreich stellt diese Eröffnung des Applikationslabors einen mehr

  • LUM ist nominiert für den Innovationspreis Berlin-Brandenburg 2012

    Mit dem neuen Adhäsionsanalysator LUMiFrac® ist LUM GmbH für den Innovationspreis Berlin Brandenburg 2012 nominiert. Aus mehr als 100 Bewerbern gelangte LUM in die Runde der letzten 5. Bislang bekannt als Hersteller von Geräten zur direkten und schnellen Stabilitätsanalytik von Dispersionen und Part mehr

  • Vive la France – LUM dauerhaft vor Ort in Paris

    In Zusammenarbeit mit der französischen Firma ACIL Sarl eröffnet die LUM GmbH ein Applikationslabor in Paris. Ab sofort besteht für alle französischen Kunden und Interessenten die Möglichkeit, sich vor Ort in Paris über die LUM-Messgeräte zur direkten und schnellen Stabilitätsanalytik und Partikelch mehr

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Videos Partikelcharakterisierung

Partikelanalyse auf Knopfdruck

Anton Paar stellt Partikelcharakterisierung mit Hilfe von Lichtstreuungstechnologie vor – in einem System mit genial einfacher Software. Hiermit wird modernste Partikelanalyse per Knopfdruck angeboten. Der Litesizer™ 500 ist ein leistungsstarkes Lichtstreuungs-Instrument mit hochempfindlicher Messop mehr

White Paper Partikelcharakterisierung

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