Fehleranalyse automatisieren mit dem Infrarot-Mikroskop AIM-9000 von Shimadzu

Überwachung, Messpunktdefinition, Messung, Nachweis: Das FTIR-Mikroskop macht’s einfach und schnell

Das FTIR-Mikroskop AIM-9000 basiert auf einem in der Infrarot-Mikroskopie einzigartigen Konzept. Es ist ein automatisches Fehleranalysesystem mit vollständiger Automatisierung aller notwendigen Schritte in der Ausfallanalyse und der Mikroprobenauswertung: Überwachung, Definition von Messpunkten, Messung und Nachweis.


1. Überwachung

Eine Weitwinkelkamera zoomt automatisch von der Wahrnehmung mit bloßem Auge (10 x 13 mm) bis hinab zur Größe von Verunreinigungen (300 x 400 μm)

2. Definition von Messpunkten, Messung

  • Das automatische Erkennungssystem für Verunreinigungen stellt die Blende automatisch für die Messpunkte ein
  • Die Messung der Punkte wird automatisch durchgeführt

3. Nachweis

  • Das Analyseprogramm identifiziert das Spektrum automatisch
  • Die AIMsolution-Software kann mit der LabSolutions IR-Bibliothek nach etwa 12.000 Spektren suchen. Verfügbar sind eine Bibliothek mit Kontaminanten von Trinkwasser, eine Bibliothek thermisch-abgebauter Kunststoffe sowie optionale Sadtler und STJ-Bibliotheken.

Des Weiteren nutzt das AIM-9000-FTIR-Mikroskop ein Hochgeschwindigkeits-Mapping mit Visualisierung. Es ist möglich, optisch zu überwachen und gleichzeitig zu messen. 

Software und Kompatibilität

Das AIM-9000 Infrarot-Mikroskop wird über die AIMsolution-Software gesteuert, die alle Funktionen zur Probenüberwachung, für die Messungen und die Analyse in sich vereinigt. Zahlreiches Zubehör ergänzt das System. Hierzu gehören Objektive, Polarisatoren, ein Drucksensor oder ein TGS-Detektor. Das AIM-9000 ist kompatibel mit den IRAffinity-1S- und IRTracer-100-FTIR-Spektrometern von Shimadzu. In Kombination mit einer IRTracer-100-Plattform kann das AIM-9000 ein S/N-Verhältnis von außergewöhnlichen 30.000/1 (Transmission, MCT-Detektor, 50 µm Blende, 8 cm-1 Auflösung, 2 Minuten Scan) erreichen.

Anwendungen
  • FT-IR-Mikroskopie

  • Mikroanalyse

  • Infrarot-Mikroskopie

Themen
  • FT-IR-Mikroskope

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