Laserbeugung auf höchstem Niveau

Schnelle und reproduzierbare Partikelgrößenmessung von 10 nm - 3.000 µm mit nur 2 Klicks

Der neue LS 13 320 XR bedeutet Laserbeugung auf höchstem Niveau.

Mit einem erweiterten Messbereich und einer optimierten PIDS Technology bietet der LS 13 320 XR reale Partikeldetektion von 10 nm – 3000 µm. 132 Detektoren bieten hochauflösende Messungen und perfekt reproduzierbare Ergebnisse.

Die Partikelanalyse wird aufgrund einer intuitiven Software noch effizienter. Mit nur zwei Klicks werden Partikeldaten analysiert und Datenexporte erstellt.
Benutzerdefinierte Methoden ermöglichen eine schnelle, akkurate und reproduzierbare Partikelanalysen für jeden Mitarbeiter.

  • Messbereich: 10 nm – 3,000 µm
  • Reale Detektion bis 10 nm durch erweiterte PIDS Technologie
  • Automatisch visualisierte Spezifikationskontrolle
  • Partikelanalysedaten mit nur zwei Klicks
  • 21 CFR Part 11 konforme Software ermöglicht das Arbeiten unter zertifizierten Bedingungen
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