Neue Ionenfeinstrahlanlage stärkt Nano- und Hochdruckforschung
Fokussierter Ionenstrahl ermöglicht Materialbearbeitung mit Nanometer-Genauigkeit
11.07.2016 -
Mit einer neuen Ionenfeinstrahlanlage (Focused Ion Beam, FIB) können Wissenschaftler bei DESY Materialien auf wenige Nanometer genau präparieren und dabei „live“ mit einem Rasterelektronenmikroskop beobachten. Darüber hinaus liefert das neue Spezialmikroskop detaillierte Einblicke in die innere ...
Focused Ion Beam
Materialwissenschaften
Mikroskopie
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