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BTX-II

Analysieren wie die NASA auf dem Mars mit XRD und RFA

Olympus Deutschland GmbH

Akkurate Materialanalytik kleinster Probenmengen mit Röntgendiffraktometrie & Röntgenfluoreszenzanalyse

Spart Zeit und Geld in der Materialanalyse: Das BTX von Olympus wurde ursprünglich für chemische und mineralogische Prüfungen im Rahmen der NASA-Mission „Curiosity“ auf dem Mars Science Laboratory (MSL/CheMin) entwickelt. Das BTX ist ein portables, leichtes und robustes Gerät (XRD- und XRF-Technolgien) und das Resultat der kooperativen Zusammenarbeit der NASA und Olympus. Diese Geräteentwicklung ermöglicht auf einfache Weise Untersuchungen mittels Röntgendiffraktometrie und Röntgenfluoreszenz.

Durch die Kombination beider Methoden in einem Messinstrument stehen dem Anwender alle Informationen zur strukturellen und elementaren Zusammensetzung seiner Probe schnell und effizient zur Verfügung. Weitere Vorteile sind die niedrigen Betriebskosten sowie der geringe Platzbedarf.

Hauptmerkmale

  • Schnell, effizient, kompakt
  • Pulverröntgendiffraktometrie mit Röntgenfluoreszenzanalyse
  • Minimale Probenmengen
  • Patentiertes Vibrationssystem
  • Röntgenstrahldetektor mit intelligenter Energiediskriminierung
  • Einfache Handhabung

So reduziert das BTX-II zum einen Ineffizienzen, welche bei konventionellen Diffraktometriesystemen auftreten. Zum anderen ermöglicht seine auf engstem Raum gekoppelte Transmissionsgeometrie eine geringe Röhrenleistung und minimale Probenmengen (ca. 15 mg gesiebte Probenmenge < 150 μm). Darüber hinaus bringt das integrierte Vibrationssystem die Kristalle in einer festen Probenzelle in eine zufällige Anordnung, so dass die Probe nicht zuvor fein zermahlen und zu einer Tablette gepresst werden muss und eine Vorzugsorientierung vermieden wird. Der zweidimensionale CCD-Detektor ermittelt Lage und Energie der auftretenden Röntgenphotonen und stellt das Pattern dar. Der Röntgenstrahldetektor mit seiner intelligenten Energiediskriminierung eliminiert unter anderem Fluoreszenz sowie Streuung vom Hintergrund und liefert RFA-Spektraldaten zur Pattern-Bestätigung. Darüber hinaus verbindet die energiedispersive Röntgenfluoreszenztechnologie wählbare, optimierte Strahlenenergien der Miniaturröntgenröhre und Spezialfilter mit der platzsparenden Anordnung von Probe und Detektor. Dadurch kann ein weiter Bereich an Elementen und Konzentrationen gemessen werden.

Die einfache Probenvorbereitung und der unkomplizierte, robuste Aufbau machen das BTX-II zu einem idealen Instrument auch für den Einsatz direkt vor Ort.

Anwendungsbereiche:

  • Analyse von Mineralen und Erzen
  • Erkennung von Gefahrstoffen
  • Identifizierung gefälschter Medikamente
  • Spülprobenuntersuchungen in der Petrochemie
  • Überprüfung von Futtermitteln und Kunstdünger

Technische Merkmale:

  • Auflösung der Röntgendiffraktometrie: 0,25° 2θ
  • Winkel-/Messbereich der Röntgendiffraktometrie: 5 - 55° für 2θ
  • Auflösung der Röntgenfluoreszenz: 200 eV bei 5,9 keV
  • Energiebereich der Röntgenfluoreszenz: 3 bis 25 keV
  • Drahtloser Anschluss: 802.11b/g für Fernsteuerung über WLAN
  • XPowder-Software mit AMSCD-Mineraldatenbank sowie quantitative Analysesoftware im Lieferumfang enthalten
  • Probenmenge: mindestens ca. 15 mg
  • Korngröße der Pulverprobe: < 150 μm gesiebtes Pulver
  • Leistung der Röntgenröhre: 10 W
  • Gewicht: 12,5 kg
  • Abmessung: 30 cm x 17 cm x 47 cm
  • Betriebstemperatur: -10 °C bis 35 °C

1

Laden der Probe

2

Probenvorbereitung

3

Analyse

Produkteinordnung BTX-II

Anwendungen

Mineralogie
Röntgendiffraktometrie

Produktkategorien

Röntgendiffraktometer
Röntgenfluoreszenzspektrometer

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